1. Séverac H., Haas V., Marty-Dessus D. et Franceschi J.L., Contrôle non destructif par imagerie photoacoustique sélective, Proc Opto 94, Paris (1994).
2. Effect of electronic strain on photoacoustic generation in silicon
3. Imaging of dopant regions in silicon with thermal‐wave electron microscopy
4. Nowacki W., Sur certains problèmes dynamiques de la thermoélasticité, Académie polonaise des Sciences. Centre scientifique à Paris-Conférences-Fascicule 37 (1962).
5. Marty-Dessus D., Caractérisation en profondeur par imagerie acousto-électronique et photoacoustique de composants silicium, Thèse de doctorat, Toulouse (1993).