Mesures photométriques de l'ionisation des trajectoires dans les plaques photographiques (méthode générale et quelques applications)
Author:
Publisher
EDP Sciences
Subject
Industrial and Manufacturing Engineering,Surfaces, Coatings and Films,General Engineering
Link
http://jphysrad.journaldephysique.org/10.1051/jphysrad:01953001406035300/pdf
Reference11 articles.
1. A Semi‐Automatic Device for Analyzing Events in Nuclear Emulsions
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