Author:
Sada Y.,Ajimura S.,Beer G.,Bhang H.,Bragadireanu M.,Buehler P.,Busso L.,Cargnelli M.,Choi S.,Curceanu C.,Enomoto S.,Faso D.,Fujioka H.,Fujiwara Y.,Fukuda T.,Guaraldo C.,Hashimoto T.,Hayano R. S.,Hiraiwa T.,Iio M.,Iliescu M.,Inoue K.,Ishiguro Y.,Ishikawa T.,Ishimoto S.,Ishiwatari T.,Itahashi K.,Iwai M.,Iwasaki M.,Kato Y.,Kawasaki S.,Kienle P.,Kou H.,Ma Y.,Marton J.,Matsuda Y.,Mizoi Y.,Morra O.,Nagae T.,Noumi H.,Ohnishi H.,Okada S.,Outa H.,Piscicchia K.,Poli Lener M.,Romero Vidal A.,Sakaguchi A.,Sakuma F.,Sato M.,Scordo A.,Sekimoto M.,Shi H.,Sirghi D.,Sirghi F.,Suzuki K.,Suzuki S.,Suzuki T.,Tanida K.,Tatsuno H.,Tokuda M.,Tomono D.,Toyoda A.,Tsukada K.,Vazquez Doce O.,Widmann E.,Weunschek B. K.,Yamaga T.,Yamazaki T.,Yim H.,Zhang Q.,Zmeskal J.