Utilisation d'un seul dioptre et d'un analyseur ellipsomètre interférentiel pour l'amélioration des mesures d'indices par réflecto-ellipsométrie en incidence brewstérienne ou principale
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Published:1974
Issue:5
Volume:9
Page:947-951
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ISSN:0035-1687
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Container-title:Revue de Physique Appliquée
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language:
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Short-container-title:Rev. Phys. Appl. (Paris)
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