Méthodes physiques de détermination des imperfections dans les couches hétéroépitaxiques de silicium sur substrat alumine-α
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Published:1969
Issue:3
Volume:4
Page:345-351
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ISSN:0035-1687
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Container-title:Revue de Physique Appliquée
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language:
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Short-container-title:Rev. Phys. Appl. (Paris)
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