1. 1. Gordillo G., Rojas F., Calderón C. (2003). Optical characterization of Cd (Sx, Te1-x) thin films deposited by evaporation. Superficies y Vacio. V. 16, № 3, 30-33.
2. 2. Беляев А. П., Рубец В. П., & Калинкин И. П. (2003). Влияние резко неравновесных условий на стехиометрию состава слоя теллурида кадмия, конденсируемого из паровой фазы. Физика и техника полупроводников, Т. 37, Вып. 6, 641-643.
3. 3. Майссел Л., Глэнг Р. (1977). Технология тонких пленок (справочник) / пер. с англ. под. ред. М. И. Елинсона, Г. Г. Смолко. М. Сов. радио Т.1.
4. 4. Случинская И. А. (2002). Основы материаловедения и технологии полупроводников. Москва. Мифи.
5. ZnSe sintered films: growth and characterization;Kumar;Applied Surface Science Vol 25 № 3 Issue 7 35433546,2007