1. [1] http://www.nict.go.jp/press/2012/03/08-1.html.
2. [2] R. J. Essiambre, G. Kramer, P. J. Winzer, G. J. Foschini and B. Goebel: IEEE J. Lightwave Technol. 28 (2010) 662. DOI:10.1109/JLT.2009.2039464
3. [3] F. Ferreira, D. van den Borne, P. Monteiro and H. Silva: Tech. Dig. OFC (2012) JW2A.37. DOI:10.1364/NFOEC.2012.JW2A.37
4. [4] M. Salsi, J. Vuong, C. Koebele, P. Genevaux, H. Mardoyan, P. Tran, S. Bigo, G. Le Cocq, L. Bigot, Y. Quiquempois, A. Le Rouge, P. Sillard, M. Bigot-Astruc and G. Charlet: Proc. ECOC (2012) Tu.3.F.1.
5. [5] N. K. Fontaine, R. Ryf, S. G. Leon-Saval and J. Bland-Hawthorn: Proc. ECOC (2012) Th.2.D.6.