Author:
Серебренникова П.C.,Громилов С.А.
Abstract
Описана методика использования внутреннего эталона при уточнении параметров элементарной ячейки монокристаллов. Исследование проведено на монокристальных дифрактометрах Bruker, оборудованных трех- и четырехкружными гониометрами. В основе методики лежит подклеивание эталонного кристалла к изучаемому и дальнейшее определение ориентации каждого относительно осей гониометра. Далее следует вычисление углов для выведения определенных отражений на экваториальную плоскость и запись их профилей путем ω-сканирования. Показано, что при использовании рефлексов с 2θ ≈ 80° процедура съемки и обработки экспериментальных фреймов позволяет проводить измерения межплоскостных расстояний с относительной ошибкой Δd/d ≈ 1·10–4.
Cited by
1 articles.
订阅此论文施引文献
订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献