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SIMULATION OF LIFETIME CHARACTERIZATION OF TEXTURED SILICON AND COMPARISON WITH EXPERIMENTAL RESULTS

  • Published:2022 Issue: Volume: Page:
  • ISSN:2694-930X
  • Container-title:NANOCON Conference Proeedings
  • language:
  • Short-container-title:

Author:

DADASHOV Ruhani1,VOVES Jan1,ABHINAV Deep Pakki2

Affiliation:

1. Department of Microelectronics, Faculty of Electrical Engineering, Czech Technical University in Prague (CTU), Czech Republic, EU, dadasruh@fel.cvut.cz

2. Department of Electrotechnology, Faculty of Electrical Engineering, Czech Technical University in Prague (CTU), Czech Republic, EU, pakkiabh@fel.cvut.cz

Publisher

TANGER Ltd.

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