Author:
Kosiachkin Y.,Bulavin L.A.,Kopcansky P.
Abstract
З метою розвитку методiв нейтронної та рентґенiвської рефлектометрiї для дослiдження поверхневих шарiв рiдинних систем запропоновано метод збiльшення чутливостi рефлектометричного експерименту до появи та еволюцiї приповерхневих шарiв. У зв’язку з цим, проведено тестування багатошарових гетероструктур Ni/Ti щодо практичного застосування квазиоднорiдного пiдходу зi змiною ефективної густини довжини розсiяння рентґенiвського випромiнювання тонких (товщиною до 100 нм) металевих плiвок в рентґенiвських рефлектометричних експериментах на прикладi електрохiмiчних iнтерфейсiв. Структури з надзвичайно малою товщиною двошарової системи Ni/Ti та рiзним спiввiдношенням товщин пiдшарiв нiкелю та титану були синтезованi методом магнетронного напилення. Проаналiзовано дзеркальну вiдбивну здатнiсть рентґенiвського випромiнювання вiд поверхнi гетероструктур для визначення межi можливостi використання квазиоднорiдного наближення.
Publisher
National Academy of Sciences of Ukraine (Co. LTD Ukrinformnauka) (Publications)
Subject
General Physics and Astronomy