SiC Technology
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Publisher
CRC Press
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1. Effect of Low Energy Argon Ions Etching on the 4H–SiCOI Composite Substrate Prepared by Crystal‐Ion‐Slicing Technique;physica status solidi (a);2023-08-02
2. Electrical characterization of HfO2/4H-SiC and HfO2/Si MOS structures;2022 19th China International Forum on Solid State Lighting & 2022 8th International Forum on Wide Bandgap Semiconductors (SSLCHINA: IFWS);2023-02-07
3. Ferrite film growth on semiconductor substrates towards microwave and millimeter wave integrated circuits;Journal of Applied Physics;2012-10-15
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5. Case Studies in Chemical Sensor Development;BioNanoFluidic MEMS
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