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Testing Complex and Embedded Systems

  • Published:2018-09-03 Issue: Volume: Page:
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Author:

Pries Kim H.,Quigley Jon M.

Publisher

CRC Press

Cited by 2 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Optimizing FMEA for Enhanced Reliability;IEEE Reliability Magazine;2024-06

2. Five Approaches to Product Testing;IEEE Reliability Magazine;2024-03
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