Author:
Утамурадова Ш.,Хамдамов Ж.,Бекмуратов М.
Abstract
В данной работе приведены результаты приповерхностные состояния атомов иттербия в кремнии методом спектроскопии комбинационного рассеяния света (КРС). С использованием спектрометра SENTERRA II Bruker исследованы образцы кремния, легированного примесями иттербия. Проведена регистрация и идентификация как кристаллической, так и аморфной фазовых составляющих в образцах.
Publisher
Scientific Publishing Center InterConf