Novel Characterization Of Thin Film Multilayered Structures: Microcleavage Transmission Electron Microscopy
Author:
Affiliation:
1. Argonne National Laboratory (United States)
2. Universite Aix-Marseille III (France)
3. Universite de Paris-Sud (France)
Publisher
SPIE
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1. Multilayer x-ray mirrors;Journal of Russian Laser Research;1995-07
2. Cross-sectional transmission electron microscopy of x-ray multilayer thin film structures;Journal of Electron Microscopy Technique;1991-12
3. Artificially Layered Superconductors;MRS Bulletin;1990-02
4. Structure of tungsten carbide‐cobalt multilayers;Journal of Applied Physics;1989-06
5. Elastic constants of metal‐insulator superlattices;Applied Physics Letters;1989-04-10
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