Microstructural Information From Optical Properties In Semiconductor Technology
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SPIE
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1. Spectroscopic Ellipsometry;Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells;2011-04-07
2. Capacitance, Dielectric Constant, and Doping Quantum Dots;Superlattice to Nanoelectronics;2011
3. Extrinsic interface formation of HfO2 and Al2O3∕GeOx gate stacks on Ge (100) substrates;Journal of Applied Physics;2009-08-15
4. Effect of graphite and molybdenum wall tile reflections on visible light diagnostics in tokamak experiments;Review of Scientific Instruments;2003-09
5. Spectroscopic ellipsometry studies of index profile of indium tin oxide films prepared by spray pyrolysis;Applied Surface Science;2002-11
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