Optical characterization of low-temperature GaAs-Reference-Cited by-同舟云学术

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Optical characterization of low-temperature GaAs

Published:2000-07-11 Issue: Volume: Page:
ISSN:0277-786X
Container-title:Optoelectronic Materials and Devices II
language:
Short-container-title:

Author:

Chen Genmao¹,Ruda Harry E.¹,Liu Qiang²,Jedral Lech Z.³,Edirisinghe Champika H.⁴,Yacobi Ben G.¹,Smith Peter W. E.¹,Benjamin Seldon D.⁵

Affiliation:

1. Univ. of Toronto (Canada)

2. Filtronic Solid State (United States)

3. Delphax Inc. (United States)

4. SDL, Inc. (United States)

5. Univ. of Toronto (United States)

Publisher

SPIE

Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Monte Carlo simulations of polarization plateaus in carbon-based ferrielectric (1, 3/2) nanotubes;Modern Physics Letters B;2023-06-30

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