Research of mask photoresist sensitivity for local critical dimension uniformity improvement in ArF lithography

Author:

Zeng Yilei,Cheng Yi,Zhang Yu,Li Peisheng,Zhang Zhong,Zhou Min,Zhang Xin

Publisher

SPIE

Reference10 articles.

1. Evalution of the attenuated PSM performance as the shifter transmittance and illumination systems;Kim,1999

2. A novel high-transmission phase shift mask for ArF lithographic performance enhancement;Naoto,2020

3. Contribution of EUV mask CD variability on LCDU;Qi,2017

4. Development of high-transmittance phase-shifting mask for ArF immersion lithography;Ahn,2015

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