Electron multiplying CMOS as Shack-Hartmann wavefront sensor

Author:

Buton C.1,Fereyre P.2,Fournier M.3,Mayer F.2,Barbier R.1

Affiliation:

1. Institut de Physique Nucléaire de Lyon (France)

2. e2v (France)

3. Univ. de Lyon (France)

Publisher

SPIE

Reference14 articles.

1. The LLCCD: low-light imaging without the need for an intensifier;Jerram,2001

2. Analysis of electron multiplying charge coupled device and scientific CMOS readout noise models for Shack–Hartmann wavefront sensor accuracy

3. A charge-multiplication CMOS image sensor suitable for low-light-level imaging.;Shimizu,2009

4. Electron Multiplying Device Made on a 180 nm Standard CMOS Imaging Technology;Fereyre,2015

5. A Theory of Multiplication Noise for Electron Multiplying CMOS Image Sensors

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