Interferometric system based on swept source-optical coherence tomography scheme applied to the measurement of distances of industrial interest

Author:

Morel Eneas N.1,Russo Nélida A.2,Torga Jorge R.1,Duchowicz Ricardo3

Affiliation:

1. Universidad Tecnológica Nacional, Laboratorio de Optoelectrónica y Metrología Aplicada, Facultad Regional Delta, San Martin 1771, 2804 Campana, Buenos Aires, Argentina

2. Centro de Investigaciones Ópticas (CONICET-CIC), Centenario y 506, 1897 Gonnet, La Plata, Buenos Aires, Argentina

3. Centro de Investigaciones Ópticas (CONICET-CIC), Centenario y 506, 1897 Gonnet, La Plata, Buenos Aires, ArgentinacUniversidad Nacional de la Plata, Facultad de Ingeniería, Calle 1 y 47, 1900 La Plata, Buenos Aires, Argentina

Publisher

SPIE-Intl Soc Optical Eng

Subject

General Engineering,Atomic and Molecular Physics, and Optics

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