An anti-vibration phase demodulation method applied to phase-shifting interferometric
Author:
Publisher
SPIE
Reference24 articles.
1. Low-magnification polarization phase-shifting interference microscope for three-dimensional profilometry
2. Simultaneous measurement of three-dimensional deformation based on digital speckle pattern interferometry technology
3. New compensating four-phase algorithm for phase-shift interferometry
4. Multiple beam Fizeau interferometer with filtered frequency comb illumination
5. Modified five-step phase-shift algorithm for 3D profile measurement
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