Quantitative thermal characterization of microelectronic devices by using CCD-based thermoreflectance microscopy

Author:

Kim Dong Uk,Ryu Seon Young,Kim Jun Ki,Chang Ki Soo

Publisher

SPIE

Reference10 articles.

1. Thermal imaging and measurement techniques for electronic materials and devices;Kölzer,1996

2. Microscale and nanoscale thermal characterization techniques;Christofferson,2008

3. Thermography techniques for integrated circuits and semiconductor devices;Liu,2007

4. Failure analysis of plastic encapsulated components—the advantages of IR microscopy;Brown,1987

5. CCD-based thermoreflectance microscopy: principles and applications;Farzaneh,2009

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