1. Bacivarov, I. C., Bacivarov, A., Mihalache, A., [Controlul statistic al conformitatii şi fiabilitatii produselor], Editura "Electronica 2000" (2003).
2. Cătuneanu, V., Bacivarov, Angelica, [Structuri electronice de înaltă fiabilitate. Toleranţa la defectări], Editura Militară, Bucuresti (1999).
3. Fault detection and identification with a new feature selection based on mutual information
4. Abramovici, M., [Digital Systems Testing and Testable Design], Jaico Publishing House (2001).
5. http://ntrs.nasa.gov/archive/nasa/casi.ntrs.nasa.gov/20110007007.pdf (accessed 5 May 2016).