A novel phase shifting structured illumination microscopy

Author:

Singh Veena1,Dubey Vishesh1,Ahmad Azeem1,Singh Gyanendra1,Mehta D. S.1

Affiliation:

1. Indian Institute of Technology Delhi (India)

Publisher

SPIE

Reference13 articles.

1. Malacara, D., Servín, M. and Malacara, Z., [Interferogram analysis for optical testing], Taylor & Francis group, Boca Raton, 259–335 (2005).

2. “Interference and fringe pattern demodulation”, OPI Online Courses, (10 January 2016).

3. Leach, R. (Ed.), [Optical measurement of surface topography], Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 167–185 (2011).

4. Malacara, D. (Ed.), [Optical shop testing], John Wiley & Sons, Inc., Hoboken, New Jersey, 547–630 (2007).

5. Fringe projection with a sinusoidal phase grating

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