The power of algorithmic employed in a metrology system: AIMS EUV Digital Flex Illu

Author:

Capelli Renzo,Gwosch Klaus,Kersteen Grizelda,Roesch Matthias,Müller Carolin,Winkler Alexander,Verch Andreas

Publisher

SPIE

Reference11 articles.

1. 0.33 NA EUV systems for High Volume Manufacturing;Guido,2022

2. Intel technology engine fueling the semiconductor growth;Ryan,2022

3. EUV optics at ZEISS: status and outlook;Bartosz,2022

4. High-NA EUV imaging: the quest for resolution, depth-of-focus, and productivity

5. Attenuated phase shift masks: a wild card resolution enhancement for extreme ultraviolet lithography?;Andreas;J. of Micro/Nanopatterning, Materials, and Metrology,2022

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