Author:
Sierakowski Andrzej,Kopiec Daniel,Ekwińska Magdalena,Piasecki Tomasz,Dobrowolski Rafał,Płuska Mariusz,Domański Krzysztof,Grabiec Piotr,Gotszalk Teodor P.
Cited by
1 articles.
订阅此论文施引文献
订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献
1. Active Probe AFM Imaging and Nanofabrication;Active Probe Atomic Force Microscopy;2024