X-ray stress measurement of SiC single-crystal induced by laser ablation
Author:
Publisher
SPIE
Reference12 articles.
1. Silicon Carbide as a Platform for Power Electronics
2. DC characteristics of the SiC Schottky diodes;Janke;B POL ACAD SCI-TECH,2011
3. Time-Resolved Experimental Study of Silicon Carbide Ablation by Infrared Nanosecond Laser Pulses
4. Laser beam machining—A review
5. Plastic Deformation in Silicon Crystal Induced by Heat-Assisted Laser Shock Peening
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