Role of Condensation Phenomena in the Measurement of Film Thickness by the Oscillating Quartz Crystal Method
Author:
Publisher
AIP Publishing
Subject
General Physics and Astronomy
Link
http://aip.scitation.org/doi/pdf/10.1063/1.1708055
Reference5 articles.
1. Vacuum evaporation rate control by use of constant source current
2. Die optischen Eigenschaften dielektrischer Schichten mit kleinen Homogenit�tsst�rungen
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