Parafocusing Diffractometry-Reference-Cited by-同舟云学术

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Parafocusing Diffractometry

Published:1963-12 Issue:12 Volume:34 Page:1344-1347
ISSN:0034-6748
Container-title:Review of Scientific Instruments
language:en
Short-container-title:Review of Scientific Instruments

Author:

Ogilvie R. E.

Publisher

AIP Publishing

Subject

Instrumentation

Link

http://aip.scitation.org/doi/pdf/10.1063/1.1718231

Reference8 articles.

1. Eine fokussierende röntgenspektroskopische Anordnung für Kristallpulver

2. Eine neue Anordnung für röntgenkristallographische Untersuchungen von Kristallpulver

3. Parafocusing Properties of Microcrystalline Powder Layers in X‐Ray Diffraction Applied to the Design of X‐Ray Goniometers

4. Geiger-Counter X-Ray Spectrometer - Influence of Size and Absorption Coefficient of Specimen on Position and Shape of Powder Diffraction Maxima

Cited by 3 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Feinstrukturuntersuchung;Materialprüfung mit Röntgenstrahlen;1971

2. Spektralanalyse;Materialprüfung mit Röntgenstrahlen;1971

3. X-Ray Diffractometry Methods for Complex Powder Patterns;X-Ray and Electron Methods of Analysis;1968

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