Improved Monochromator for Diffuse X‐Ray Scattering Measurements

Author:

Chipman D. R.

Publisher

AIP Publishing

Subject

Instrumentation

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1. A double focusing neutron monochromator consisting of facets;Journal of Physics E: Scientific Instruments;1987-04

2. The local atomic order of a Ni–12.7 at.% Al alloy quenched from 1323 K;Acta Crystallographica Section A Foundations of Crystallography;1983-09-01

3. Equipping a three-circle single-crystal diffractometer with an Si(Li) solid-state detector and a low-temperature cryostat (80 K) to measure X-ray diffuse intensity;Journal of Applied Crystallography;1982-02-01

4. Reflection of X-rays by Bent Crystals;Advances in X-ray Spectroscopy;1982

5. Röntgendiffraktometrie;Handbuch Festkörperanalyse mit Elektronen, Ionen und Röntgenstrahlen;1979

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