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Acoustic properties of strained SiGe/Si layers in the sub-terahertz frequency range

  • Published:2020-04-21 Issue:15 Volume:127 Page:154304
  • ISSN:0021-8979
  • Container-title:Journal of Applied Physics
  • language:en
  • Short-container-title:Journal of Applied Physics

Author:

Klokov A. Yu.1ORCID,Krivobok V. S.1ORCID,Sharkov A. I.1ORCID,Tsvetkov V. A.1ORCID,Martovitskii V. P.1ORCID,Novikov A. V.23ORCID

Affiliation:

1. P.N. Lebedev Physical Institute, Russian Academy of Sciences, Leninskii pr. 53, Moscow 119991, Russia

2. Institute for Physics of Microstructures RAS, GSP-105, Nizhny Novgorod 603950, Russia

3. Lobachevsky State University of Nizhny Novgorod, Prospekt Gagarina 23, Nizhny Novgorod 603950, Russia

Funder

Russian Academy of Sciences

Russian Foundation for Fundamental Investigations

Russian Foundation for Basic Research

Publisher

AIP Publishing

Subject

General Physics and Astronomy

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