Profile correction to electron temperature and enhancement factor in soft‐x‐ray pulse‐height‐analysis measurements in tokamaks
Author:
Publisher
AIP Publishing
Subject
Instrumentation
Link
http://aip.scitation.org/doi/pdf/10.1063/1.1140120
Reference5 articles.
1. Thermal X-ray spectra and impurities in the ST Tokamak
2. Fast-wave ion-cyclotron and first-harmonic heating of large tokamaks
3. Soft x‐ray measurements from the PDX tokamak
4. Pulse pileup effects on plasma electron temperature measurements by soft X-ray energy analysis
5. Idealized pulse pileup effects on energy spectra
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1. Active silicon x‐ray filter for measuring electron temperature;Review of Scientific Instruments;1995-01
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