Author:
Hiraiwa T.,Ajimura S.,Beer G.,Bhang H.,Bragadirenn M.,Buehler P.,Busso L.,Cargnelli M.,Choi S.,Curceanu C.,Enomoto S.,Faso D.,Fujioka H.,Fujiwara Y.,Fukuda T.,Fukuda Y.,Guaraldo C.,Hashimoto T.,Hayano R. S.,Iio M.,Iliescu M.,Inoue K.,Ishikawa T.,Ishimoto S.,Ishiwatari T.,Itahashi K.,Iwai M.,Iwasaki M.,Kienle P.,Kou H.,Marton J.,Matsuda Y.,Mizoi Y.,Morra O.,Nagae T.,Noumi H.,Ohnishi H.,Okada S.,Outa H.,Pietreau D.,Sada Y.,Sakaguchi A.,Sakuma F.,Sato M.,Sekimoto M.,Sirghi D.,Sirghi F.,Suzuki K.,Suzuki S.,Suzuki T.,Tatsuno H.,Tokuda M.,Tomono D.,Toyoda A.,Tsukada K.,Widmann E.,Yamazaki T.,Yim H.,Zmeskal J.,Crede Volker,Eugenio Paul,Ostrovidov A.