Equivalent-time sampling force microscopy using pulse position modulation method-Reference-Cited by-同舟云学术

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Equivalent-time sampling force microscopy using pulse position modulation method

Published:2002-02 Issue:2 Volume:73 Page:323-329
ISSN:0034-6748
Container-title:Review of Scientific Instruments
language:en
Short-container-title:Review of Scientific Instruments

Author:

Said R. A.

Publisher

AIP Publishing

Subject

Instrumentation

Link

http://aip.scitation.org/doi/pdf/10.1063/1.1430549

Reference16 articles.

1. Subpicosecond electrooptic sampling: Principles and applications

2. High resolution atomic force microscopy potentiometry

3. Noninvasive scanned probe potentiometry for integrated circuit diagnostics

4. Picosecond electrical sampling using a scanning force microscope

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