Author:
Pikuz T. A.,Faenov A. Ya.,Skobelev I. Yu.,Fortov V. E.,Boldarev A. S.,Gasilov V. A.,Chen L. M.,Zhang L.,Yan W. C.,Yuan D. W.,Mao J. Y.,Wang Z. H.,Colgan J.,Abdallah Jr. J.,Fukuda Y.,Hayashi Y.,Pirozhkov A.,Kawase K.,Shimomura T.,Kiriyama H.,Kato Y.,Bulanov S. V.,Kando M.