Thin‐film thickness monitor range extender-Reference-Cited by-同舟云学术

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Thin‐film thickness monitor range extender

Published:1975-11 Issue:11 Volume:46 Page:1593-1593
ISSN:0034-6748
Container-title:Review of Scientific Instruments
language:en
Short-container-title:Review of Scientific Instruments

Author:

Wilson F. C.,Sandstrom D. B.,Serreze H. B.

Publisher

AIP Publishing

Subject

Instrumentation

Link

http://aip.scitation.org/doi/pdf/10.1063/1.1134114

Cited by 3 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Motion in Vacuum;Experimental Innovations in Surface Science;2015

2. Rotary Shutter Device Driven by Magnetic Eddy Current;Experimental Innovations in Surface Science;1998

3. Thin film thickness monitor shutter;Review of Scientific Instruments;1978-04

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