Erratum: “Excellent conformality of atmospheric-pressure plasma-enhanced spatial atomic layer deposition with subsecond plasma exposure times” [Appl. Phys. Lett. 123, 182902 (2023)]

Author:

van de Poll Mike L.1ORCID,Jain Hardik12ORCID,Hilfiker James N.3ORCID,Utriainen Mikko4ORCID,Poodt Paul15ORCID,Kessels Wilhelmus M. M.1ORCID,Macco Bart1ORCID

Affiliation:

1. Department of Applied Physics and Science Education, Eindhoven University of Technology 1 , 5600 MB Eindhoven, The Netherlands

2. TNO/Holst Centre, High Tech Campus 31 2 , 5656 AE Eindhoven, The Netherlands

3. J.A. Woollam Co., Inc 3 ., 311 South 7th Street, Lincoln, Nebraska 68508, USA

4. Chipmetrics Ltd. 4 , Yliopistokatu 7, 80130 Joensuu, Finland

5. SparkNano B.V. 5 , Esp 266, 5633 AC Eindhoven, The Netherlands

Publisher

AIP Publishing

Subject

Physics and Astronomy (miscellaneous)

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