A Potassium-sensitive Micro/Sub-micro-electrode for Shear Force-based Scanning Electrochemical Microscopy
Author:
Affiliation:
1. National Defense Academy
Publisher
The Materials Research Society of Japan
Link
https://www.jstage.jst.go.jp/article/tmrsj/41/1/41_89/_pdf
Reference21 articles.
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1. Analytical Applications of Scanning Ion Conductance Microscopy: Measuring Ions and Electrons;Scanning Ion Conductance Microscopy;2021
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