Using Anomalous Dispersion Effect for Fourier Transform Analysis of X-ray Reflectivity from Thin-Film Stacks
Author:
Publisher
The Materials Research Society of Japan
Link
https://www.jstage.jst.go.jp/article/tmrsj/32/1/32_223/_pdf
Reference11 articles.
1. [1] B. Dieny, V. S. Speriosu, S. S. Parkin, B. A. Gurney, D. R. Wilhoit and D. Mauri, Phys. Rev. Lett., B43, 1297 (1991 ).
2. [2] M. Futamoto, Y. Hirayama, Y. Honda, K. Itoh and K. Yoshida, J. Magn. Soc. Jpn., 21, 141 (1997).
3. [3] J. S. Moodera and G. Mathon, J Magn. Magn. Mater., 200,248 (1999).
4. [4] T. C. Huang, J. -P. Nozieres, V. S. Speriosu, J. Lefakis and B. H. Gurney, Appl. Phys. Lett., 60, 1573 (1992).
5. [5] K. Usami, K. Ueda, T. Hirano, H. Hoshiya and S. Narishige, J. Magn. Soc. Jpn., 21, 441 (1997).
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