Abstract
Perovskit ince filmler yüksek taşıyıcı hareketliliği ve uzun taşıyıcı ömrüne sahip olduğundan tatmin edici bir güç dönüşüm verimliliğine sahiplerdir. Araştırmalar sonucu perovskit malzemelerin verimi son dönemlerde laboratuvar ortamında yaklaşık maksimum %31 verimliliğe ulaşmıştır. Bu amaçla katkılandırmanın perovskit ince filmlerinin yapısal, yüzeysel ve elektriksel özdirenç üzerine etkilerini araştırmak için, üretilen katkısız perovskit ince filmleri ve %10 Cu katkılı perovskit ince filmlerin XRD, EDX, FESEM ve AFM ile yapısal özellikleri ile birlikte four point probe metodu kullanılarak özdirenç ölçümleri gerçekleştirilmiştir. Katkısız perovskit ince filmleri ve %10 Cu katkılı perovskit ince filmlerin özdirençlerinin artan voltajla birlikte asimptotik olarak azaldığı belirlenmiştir.
Publisher
Uluslararasi Muhendislik Arastirma ve Gelistirme Dergisi