Author:
Kayumov R. R.,Kuputdinova A. I.,Mirkhanov D. N.,Gaisin Al. F.
Reference18 articles.
1. M. Sato, T. Ohgiyama, and J. S. Clements, IEEE Trans. Ind. Appl. 32, 106 (1996). https://doi.org/10.1109/28.485820
2. B. R. Locke, M. Sato, P. Sunka, M. R. Hofman, and J.‑S. Chang, Ind. Eng. Chem. Res. 45, 882 (2006).
3. P. J. Bruggeman and C. Leys, J. Phys. D: Appl. Phys. 42, 053001 (2009).
4. N. A. Sirotkin and V. A. Titov, Prikl. Fiz., No. 6, 25 (2016).
5. R. I. Valiev, A. A. Khafizov, L. N. Bagautdinova, F. M. Gaisin, R. S. Basyrov, Az. F. Gaisin, and Al. F. Gaisin, High Temp. 59, 634 (2021).