Fluctuation model of the capacitance-voltage characteristic of MDS structure

Author:

Men’shikova T. G.,Bormontov A. E.

Publisher

Pleiades Publishing Ltd

Subject

Physics and Astronomy (miscellaneous)

Reference10 articles.

1. E. N. Nicollian and J. R. Brews, Metal Oxide Semiconductora: Physics and Technology (Wiley, New York, 1982).

2. V. A. Gurtov, Solid State Electronics (Tekhnosfera, Moscow, 2005) [in Russian].

3. E. N. Bormontov, M. N. Levin, V. R. Gitlin, T. G. Men’shikova, and A. A. Tataritsev, Pis’ma Zh. Tekh. Fiz. 30(9), 73 (2004) [Tech. Phys. Lett. 30, 385 (2004)].

4. V. V. Kryachko, M. N. Levin, A. V. Tovarishchev, and E. N. Bormontov, Zh. Tekh. Fiz. 74(10), 128 (2004) [Tech. Phys. 49, 1375 (2004)].

5. E. N. Nicollian and A. Goetzberger, Bell Syst. Tech. J. 46, 1055 (1967).

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