1. A. M. Klushin, S. K. Khorshev, A. I. Pashkovskii, S. M. Goryunov, N. V. Rogozhkina, Yu. M. Gryaznov, M. Yu. Levichev, E. E. Pestov, Electronics & measurement KVARZ 20, 11 (2014).
2. R. W. Simon, R. B. Hammond, S. J. Berkowitz, and B. A. Willemsen, Proc. IEEE 92, 1585 (2004).
3. M. C. Johnson, T. D. Abbott, and K. B. Albaugh, J. Phys.: Conf. Ser. 97, 012336 (2008).
4. I. V. Vernik, D. E. Kirichenko, and V. V. Dotsenko, Supercond. Sci. Technol. 20, 323 (2008).
5. T. Yamada, H. Sasaki, and H. Yamamori, Supercond. Sci. Technol. 21, 035002 (2008).