1. M. Krywiecki, L. Grzadziel, H. Peisert, I. Biswas, T. Chasse, and J. Szuber, Thin Solid Films 518, 2688 (2010).
2. E. L. Aleksandrova, E. A. Lebedev, N. N. Konstantinova, and A. N. Aleshin, Fiz. Tverd. Tela (St. Petersburg) 52, 393 (2010) [Phys. Solid State 52, 422 (2010)].
3. N. L. Zaitsev, I. A. Nechaev, and E. V. Chulkov, Zh. Eksp. Teor. Fiz. 137, 129 (2010) [JETP 108, 114 (2010)].
4. A. S. Komolov, S. A. Komolov, E. F. Lazneva, and A. M. Turiev, Fiz. Tekh. Poluprovodn. (St. Petersburg) 46, 48 (2012) [Semiconductors 46, No. 1 (2012)].
5. E. F. Lazneva, A. M. Turiev, and S. A. Komolov, Pis’ma Zh. Tekh. Fiz. 35(16), 88 (2009) [Tech. Phys. Lett. 35, 781 (2009)].