Structure and Electrical Conductivity of Thin AlN Films on Si
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Pleiades Publishing Ltd
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https://link.springer.com/content/pdf/10.1134/S1063774523601260.pdf
Reference40 articles.
1. A. M. Ivanov, N. B. Strokan, I. M. Kotina, et al., Tech. Phys. Lett. 35 (5), 459 (2009). https://doi.org/10.1134/S1063785009050228
2. A. M. Ivanov, I. M. Kotina, M. S. Lasakov, et al., Semiconductors 44 (8), 1030 (2010). https://doi.org/10.1134/S1063782610080130
3. H.-Ch. Lee, G.-H. Kimb, S.-K. Hong, et al., Thin Solid Films 261, 148 (1995).
4. I. C. Oliveira, K. G. Grigorov, H. S. Maciel, et al., Vacuum 75, 331 (2004). https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2004.04.001
5. T. P. Drusedau and J. Blasing, Thin Solid Films 377–378, 27 (2000).
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