1. Arbel, D., Bar-Lev, Z., Felsteiner, J., et al., Phys. Rev. Lett., 1997, vol. 78, no. 1, p. 66.
2. Felsteiner, J., Ish-Shalom, S., and Slutsker, Ya. Z., J. Appl. Phys., 1998, vol. 83, no. 6, p. 2940.
3. Bliokh, Yu. P., Felsteiner, J., Slutsker, Ya. Z., and Vaisberg, P. M., IEEE Trans. Plasma Sci., 2001, vol. 29, no. 6, p. 895.
4. Vyalykh, D. V., Dubinov, A. E., L’vov, I. L., et al., Prib. Tekh. Eksp., 2005, no. 1, p. 86. [Instrum. Exp. Tekh. (Engl. Transl.), vol. 48, no. 1, p. 71].
5. Dubinov, A. E., L’vov, I. L., Sadovoi, S. A., et al., Izv. Vyssh. Uchebn. Zaved., Radiofiz., 2006, vol. 49, no. 4, p. 300.