1. Soloshenko, I.O., Bazhenov, V.Yu., Khomych, V.O., et al., Ukr. J. Phys., 2006, vol. 51, nos. 11–12, p. 1063.
2. Morozov, A., Krucken, R., Ottenthal, T., and Ulrich, A., Appl. Phys. Lett., 2005, vol. 86, pp. 011502–1.
3. Sosnin, E.A., Lavrent’eva, L.V., Erofeev, M.V., et al., Proc. SPIE-Int. Soc. Opt. Eng., 2004, vol. 5483, p. 317.
4. Vul’, A.Ya., Kidalov, S.V., Milenin, V.M., et al., Pis’ma Zh. Tekh. Fiz., 1999, vol. 25, no. 8, p. 62.
5. Shuaibov, A.K., Shimon, L.L., Dashchenko, A., and Shevera, I., Proc. SPIE-Int. Soc. Opt. Eng., 2002, vol. 4747, p. 410.