1. E. E. Haller, W. L. Hansen, and F. S. Goulding, Adv. Phys. 30, 93 1981.
2. A. G. Milnes, Deep Impurities in Semiconductors (Wiley, New York, 1973).
3. E. E. Haller, Solid State Commun. 133, 693 2005.
4. P. Becker, D. Schiel, H.-J. Pohl, A. K. Kaliteevski, O. N. Godisov, M. F. Churbanov, G. G. Devyatykh, A.V. Gusev, A. D. Bulanov, S. A. Adamchik, V. F. Gavva, I. D. Kovalev, N. V. Abrosimov, B. Hallman-Seiffert, H. Riemann, et al., Meas. Sci. Technol. 17, 1834 2006.
5. A. V. Gusev, A. D. Bulanov, S. V. Filimonov, S. M. Zyryanov, D. G. Aref’ev, M. F. Churbanov, I. A. Andryushchenko, A. M. Potapov, V. A. Gavva, and S. A. Adamchik, Perspekt. Mater., no. 10, 17 (2011).