Author:
Guessoum A.,Bouderbala I. Y.
Reference45 articles.
1. J. C. Kastelik, S. Dupont, K. B. Yushkov, and J. Gazalet, Ultrasonics 53, 219 (2013).
2. P. A. Kirkby, K. M. N. Nadella, and R. A. Silver, Opt. Express 18, 13720 (2010).
3. K. C. Vermeulen, J. van Mameren, G. J. M. Stienen, E. J. G. Peterman, G. J. L. Wuite, and C. F. Schmidt, Rev. Sci. Instrum. 77, 013704 (2006).
4. G. R. B. E. Römer and P. Bechtold, Phys. Procedia 56, 29 (2014).
5. T. Hegna, H. Pettersson, K. M. Laundal, and K. Grujic, in Proc. SPIE Conf. on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VII (Munich, 2011), Vol. 8082, p. 1195.