1. S. I. Kim, Y. S. Chi, Y. N. Ham, Gh. Y. Park, and J. M. Kim, Appl. Opt. 42, 2482 (2003).
2. T. Jannsona, E. Arikb, M. Bennahmiasa, N. Nathanb, S. Wangb, K. Leea, K. Yub, and E. Poliakov, Proc. SPIE 6225, 62251E-1 (2006).
3. N. M. Ganzherli, Yu. N. Denisyuk, I. A. Maurer, and D. F. Cherykh, Zh. Tekh. Fiz. 75(2), 135 (2005) [Tech. Phys. 50, 274 (2005)].
4. Yu. N. Denisyuk, N. M. Ganzherli, I. A. Maurer, and D. F. Chernykh, Izv. Ross. Akad. Nauk, Ser. Fiz. 69, 1147 (2005).
5. N. A. Valyus, Raster Optical Instruments (Mashinostroenie, Moscow 1966) [in Russian].