1. M. Schuster, H. Gobel. J. Phys. D: Appl. Phys., 28, 270 (1995).
2. M. Schuster, H. Gobel. Adv. X-Ray Anal., 39, 57 (1996).
3. P. F. Fuster. X-Ray Scattering from Semiconductors (Imperial College Press, London, 2000).
4. Yu. N. Drozdov, A. A. Akhsakhalyan, A. D. Akhsakhalyan, E. B. Klyuyenkov, L. A. Mazo, A. I. Kharitonov. Poverkhnost’. Rentgen., sinkhrotron. i nejtron. issled. 5, 33 (2005) (in Russian).
5. A. D. Akhsakhalyan, B. A. Volodin, E. B. Klyuenkov, V. A.Muravyev, N. N. Salashchenko, A. I. Kharitonov, E. A. Shamov. Poverkhnost’. Rentgen., sinkhrotron. i nejtron. issled. 1, 112 (2000) (in Russian).